理学Ultima IV是高性能的组合式多功能粉末X射线衍射仪。此设备利用衍射原理，能精确测定物质的晶体结构、织构及应力，进行物相定性和定量分析。采用了理学独创的CBO交叉光学系统，可以进行从普通粉末样品到包括In-Plane在内的薄膜样品测试，广泛应用于金属材料、无机材料、有机材料、复合材料、纳米材料、超导材料等分析领域。