理学Ultima IV是高性能的组合式多功能粉末X射线衍射仪。此设备利用衍射原理，能精确测定物质的晶体结构、织构及应力，进行物相定性和定量分析。采用了理学独创的CBO交叉光学系统，可以进行从普通粉末样品到包括In-Plane在内的薄膜样品测试，广泛应用于金属材料、无机材料、有机材料、复合材料、纳米材料、超导材料等分析领域。

性能指标：

1、一维半导体高速阵列探测器Detex-Ultra；

2、最大输出功率：2KW；

3、扫描方式：2 theta/theta测角仪，样品水平不动；

4、扫描范围：3°-160°；

5、最小步进：0.0001°；

6、角度重现性：≤0.0001°

样品要求：

1、固体粉末，尺寸为2cm * 2cm，厚度0.5mm以内的方/圆片